IEC 62321-1、-2、-3-1、-3-2、-4和-5的2013版已通過最終國際標(biāo)準(zhǔn)版草案(FDIS) 階段，目前已正式公布。有關(guān)電子產(chǎn)品中特定有害物質(zhì)測定的標(biāo)準(zhǔn)- IEC 62321，概述了電子產(chǎn)品的測試方法，以確定產(chǎn)品中的有害化學(xué)物質(zhì)濃度低于歐盟有害物質(zhì)限制指令（RoHS）法律中制定的有害化學(xué)物質(zhì)濃度。如同以往，2008版的IEC 62321標(biāo)準(zhǔn)也經(jīng)過了一段維護周期，現(xiàn)今再將最佳的操作和先進的技術(shù)引入測試程序，以確保實驗的一致性和可靠度，滿足標(biāo)準(zhǔn)的制定。
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IEC 標(biāo)準(zhǔn)
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范圍
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62321-1
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簡介和概述
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62321-2
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樣品的拆卸、拆解和機械拆分
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62321-3-1
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使用X射線熒光光譜儀對電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴進行篩選
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62321-3-2
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使用C-IC對聚合物和電子產(chǎn)品中的總溴進行篩選
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62321-4
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使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子材料中的汞
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62321-5
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使用AAS、AFS、ICP-OS和ICP-MS確定聚合物和電子材料中的鎘、鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛
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